Microscopie à l’AIME

JEOL SEM-FEG
Nano-bâtonnets d’oxyde de tungsten

Microscopie électronique à balayage

L’AIME dispose d’un Microscope Électronique à Balayage JEOL JSM-7800F. Ce MEB est équipé d’une sonde de micro-analyse EDX et d’un système de lithographie électronique.

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Microscopie à Force Atomique

L’AIME dispose de plusieurs Microscopes à Force Atomique pouvant être utilisés dans de nombreux modes d’imagerie :

Trois microscopes Innova de marque Bruker
Un microscope Caliber de marque Veeco

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AFM Innova
AFM Logiciel
Salle AFM
Staphylocoque doré
Nanotubes de carbone
Litho